Скачать статью "Германиевые окна и линзы для термографии" (PDF, 142 KB) |
Мы изготавливаем оптические компоненты из германия для пирометрии и термографии с просветляющими покрытиями для широкого диапазона длин волн, включая алмазоподобные покрытия для специальных, экстремальных условий работы. Все оптические элементы проходят строгий контроль качества. Для этой цели мы проводим спектроскопические и интерферометрические измерения.
Спектроскопические измерения
Для производства оптических элементов используется монокристаллический германий наивысшего оптического качества. Перед нанесением покрытий измеряется спектр пропускания полированных изделий в диапазоне 2 - 14 микрон (см. Рис.1).
Рис. 1.1. Спектр пропускания Ge-окна диаметром 180 мм и толщиной 12.7 мм до нанесения широкополосного просветляющего покрытия на 3 - 5 и 8 - 12 микрон.
Для приборов, используемых в пирометрии, важно лишь общее пропускание оптики. Однако для элементов изображающих систем этот параметр оказывается малоинформативным. Качество построенного изображения зависит от светорассеяния и “направленного” пропускания, которые определяют, соответственно, его контрастность и яркость. Поэтому оптические элементы изображающих систем проходят дополнительное тестирование и подвергаются специальным измерениям.
Прежде всего, определяется значение внутреннего рассеяния. Этот параметр характеризует ту часть энергии прошедшего излучения, которая, вследствие рассеяния света в материале, отклоняется от расчетного направления луча при его прохождении через деталь. Используется специальная методика измерений, т.к. при обычном фотометрировании нельзя выделить излучение, рассеиваемое под разными углами.
Поскольку реперный луч имеет длину волны 2.5 микрона и известно, что для больших длин волн потери за счет рассеяния уменьшаются, полученное значение может служить достаточным критерием для оценки внутреннего качества материала. Апертура измерительного устройства составляет примерно 35 мм. В случаях, когда этот размер значительно меньше чистой апертуры окна, мы измеряем внутреннее рассеяние в нескольких точках окна, лежащих на перпендикулярах к радиусам меньшего размера (см. таб. 1 и рис. 2).
Таб. 1 Значения внутреннего рассеяния при l = 2.5 микрона.
№ точки | ||||||||||
1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | ||
center | R1 | R2 | R3 | R4 | ||||||
1.2% | 1.2% | 1.3% | 1.4% | 1.3% | 1.4% | 1.5% | 1.3% | 1.6% |
Наряду с высоким светопропусканием, чрезвычайно важно, чтобы элементы изображающих и лазерных систем минимально искажали форму прошедшего волнового фронта. Значение искажения прошедшего волнового фронта (transmitted wavefront distortion - TWD) мы определяем с помощью интерферометрических измерений. Для этого используется следующая процедура.
Интерферометрическая картина, полученная на 10.6 микрон, напрямую регистрируется компьютером. Вначале необходимо удалить шумы и повысить контрастность изображения при помощи стандартного графического программного обеспечения (cм. рис. 3).
Рис. 3. Интерферометрическая картина прошедшего волнового фронта после удаления шумов и повышения контрастности (окно диаметром 50.8 мм, толщиной 5 мм).
Последующие операции проводятся с использованием программного обеспечения, разработанного специально для анализа интерферограмм. Сначала определяются координаты центров светлых и тёмных полос. Затем эти полосы аппроксимируются двумерными степенными полиномами. После этого производится расчет TWD и оценка точности измерений (см. таб. 2). И, наконец, топография волнового фронта реконструируется и воспроизводится на плоской и 3-х мерной диаграммах (см. рис.4).
Таб. 2 Параметры TWD и точность измерений (окно диаметром 50.8 мм и толщиной 5.0 мм).
RMSF | PVF | D | B4 | PVZ | RMS (W-Z) |
s |
0.044 | 0.26 | 0.11 | 0.16 | 0.12 | 0.027 | 0.009 |
RMSF - среднеквадратичное искажение волнового фронта по отношению к ближайшей плоскости;
PVF - максимальный размах искажения волнового фронта по отношению к ближайшей плоскости;
D - фокусирующий коэффициент эталона;
B4 - коэффициент Цернике 4-го порядка для зональной ошибки;
PVZ - максимальный размах зональной ошибки;
RMS(W-Z) - среднеквадратичное искажение волнового фронта без зональной ошибки;
σ - неточность реконструкции волнового фронта.
В ряде случаев, например, при изготовлении выходных частично отражающих зеркал для CO2-лазера, важно добиться высокой параллельности двух поверхностей зеркала. Обычные контактные методы контроля являются недостаточно точными, чтобы произвести регистрацию малых углов клина. К тому же, при контактных измерениях всегда высок риск повреждения оптики. Применяемые нашими специалистами интерферометрические измерения позволяют определить значения клина с точностью до 1.5 угловых секунд.
Рис. 6. Сравнительные спектры пропускания германиевых окон (толщиной 4.5 мм) с различными типами просветляющих и защитных покрытий.
Для получения котировки заполните, пожалуйста, форму запроса с указанием интересующих Вас элементов или свяжитесь с нами по телефонам нашего офиса.
Продукция, доступная для заказа и готовая к отгрузке. Склад продукции.
Минимальный заказ/ Доставка/ Условия оплаты/ Гарантии...